技術(shù)文章
果果儀器科技(上海)有限公司專精于溫控技術(shù),擁有探針冷熱臺(tái)、光學(xué)冷熱臺(tái)、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺(tái)、超高溫?zé)崤_(tái)、高低溫試驗(yàn)箱等多款技術(shù)產(chǎn)品,及介電溫譜、電卡、充放電測(cè)試、變溫D33等測(cè)試系統(tǒng)。
X射線衍射儀技術(shù)(X-ray diffraction,XRD),通過對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。
X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。
X射線衍射分析法目前已廣泛應(yīng)用于物相的定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析、宏觀應(yīng)力或微觀應(yīng)力測(cè)定等方面。
賽默飛(Thermo Scientific) ARL™ EQUINOX 3500是ARL EQUINOX 3000 的升級(jí)版。EQUINOX3500配備了更大曲率半徑的探測(cè)器,可根據(jù)需要獲取高分辨率XRD 數(shù)據(jù)。
在不同溫度下測(cè)試的樣品物相可能會(huì)發(fā)生變化,XRD原位冷熱臺(tái)可以為樣品提供良好的變溫測(cè)試條件,從而滿足樣品在不同溫度下的測(cè)試需求。
根據(jù)客戶需求,果果儀器定制XRD原位冷熱臺(tái)適合于粉末樣品在變溫下進(jìn)行X射線結(jié)構(gòu)研究,適配賽默飛X射線衍射儀進(jìn)行變溫X射線衍射測(cè)試。產(chǎn)品可更換上蓋,作為普通冷熱臺(tái)使用;可調(diào)節(jié)高度,滿足不同厚度樣品測(cè)試。
本產(chǎn)品包含溫度控制器、致冷控制器、循環(huán)水系統(tǒng),配套的上位機(jī)溫控軟件方便進(jìn)行溫度設(shè)置及采集,提供的Labview Vis方便客戶進(jìn)行定制化編程。
產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù):
1、溫控范圍:-190°C~600°C(氣氛環(huán)境),-190°C~400°C(真空環(huán)境);
2、溫度穩(wěn)定性:±0.1℃(<600℃),±1℃(>600℃);
3、溫度分辨率:0.1℃;
4、衍射角:∠0~∠164°;
5、可更換上蓋,作普通冷熱臺(tái)使用。
↑ XRD原位冷熱臺(tái)適配賽默飛X射線衍射儀進(jìn)行變溫X射線衍射測(cè)試 ↑