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電學(xué)測試

簡要描述:探針冷熱臺(tái)又稱電學(xué)冷熱臺(tái),專為電化學(xué)電池測試而設(shè)計(jì),是一款研究樣品變溫電學(xué)性能得的產(chǎn)品,可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~600℃(選型)或RT~1600℃(選型)范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制,與其他電學(xué)儀表(如電橋、源表、萬用表)搭配集成,進(jìn)行變溫原位測試。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-05-23
  • 訪  問  量:981

詳細(xì)介紹

品牌果果儀器應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,地礦,電子,電氣

 

探針冷熱臺(tái) 又可以叫 電學(xué)冷熱臺(tái),是一款針對研究樣品變溫 電學(xué)測試 而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品,可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。

探針冷熱臺(tái)(電學(xué)冷熱臺(tái) 是在光學(xué)冷熱臺(tái)基礎(chǔ)上,增加了一個(gè)電學(xué)模塊。通過在測試過程中移動(dòng)探針,可以使針尖與樣品表面的任何區(qū)域接觸。電信號(hào)通過連接到針座的導(dǎo)線傳輸?shù)絻x器(如源表、萬用表等)進(jìn)行電學(xué)測試,并分析材料在可變溫度下的電學(xué)特性。果果儀器 探針冷熱臺(tái)(電學(xué)冷熱臺(tái))探針有腔內(nèi)手動(dòng)調(diào)節(jié)、腔內(nèi)電動(dòng)調(diào)節(jié)、腔外手動(dòng)調(diào)節(jié)等不同型號(hào),可以根據(jù)測試需要選擇。電學(xué)冷熱臺(tái)支持定制探針/電學(xué)接口等。

產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~600℃(選型)或RT~1500℃(選型)范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制,與其他電學(xué)儀表 (如電橋、源表 、 萬用表)搭配集成,進(jìn)行變溫原位測試。

探針冷熱臺(tái)包含溫度控制器 、 致冷控制器、循環(huán)水等控制系統(tǒng),使用溫控軟件方便進(jìn)行溫度設(shè)置及采集,并提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進(jìn)行定制化編程。

 

探針冷熱臺(tái)默認(rèn)為腔室內(nèi)部手動(dòng)調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái),需要放置好樣品,手動(dòng)固定調(diào)節(jié)探針位置,蓋上上蓋然后進(jìn)行相關(guān)測試。

電學(xué)測試

探針冷熱臺(tái)ECH600S


 

 

電學(xué)測試

探針冷熱臺(tái)ECH600T


產(chǎn)品特點(diǎn):

1.溫度范圍:-190~600℃(選型)/RT~1600℃

2.溫度穩(wěn)定性:±0.1℃/±1.0℃

3.溫度分辨率:0.1℃

4.升降溫速度:0~30℃/min

5.氣密性:氣密腔室設(shè)計(jì),可升級(jí)真空腔室(10^(−3) mBar)

6.ECH600S內(nèi)置4個(gè)磁吸探針,可另外放置測試位置;ECH600T配置四個(gè)固定式鍍金探針和4個(gè)磁吸探針。探針數(shù)量可定制。

 

 

 

電學(xué)測試

 

超高溫探針熱臺(tái)H1000


產(chǎn)品特點(diǎn):

1.溫度范圍:RT~1000℃(選型)

2.溫度穩(wěn)定性:±0.1℃(<600℃),±1℃(>600℃)

3.升降溫速度:0~30℃/min

 

電動(dòng)位移探針冷熱臺(tái)是腔室內(nèi)部電動(dòng)調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái),需要放置好樣品后蓋上上蓋,通過上位機(jī)軟件電動(dòng)調(diào)節(jié)探針位置,然后進(jìn)行相關(guān)測試。

 

電學(xué)測試

 

電控位移探針冷熱臺(tái)(納米級(jí))

產(chǎn)品特點(diǎn):

1.溫度范圍:-190~400℃;

2.納米級(jí)控制精度探針;

3.探針位移精度:5nm;

4.XYZ位移行程±6mm;

5.電動(dòng)控制,結(jié)構(gòu)緊湊,適用真空環(huán)境。

 

 

外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái)可通過外部位移臺(tái)調(diào)節(jié)探針位置,方便測試中隨時(shí)調(diào)節(jié)。外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái)有兩款位移臺(tái)可選擇,2款位移精度和外觀尺寸稍有差異,可以根據(jù)需要選擇。

 

電學(xué)測試

產(chǎn)品特點(diǎn):

1.溫度范圍:-190~400℃(可選半導(dǎo)體冷熱方式:-25~120℃)

2.通過外部位移臺(tái)調(diào)節(jié)探針

3.XYZ位移行程±6.5mm

4.探針位移精度:1μm

 

電學(xué)測試

產(chǎn)品特點(diǎn):

1.溫度范圍:-25~120℃(可選液氮致冷方式:-190~400℃)

2.通過外部位移臺(tái)調(diào)節(jié)探針

4.XYZ位移行程更大,默認(rèn)配置±6.5mm,可定制,詳情咨詢客服

5.探針位移精度:10μm

6.尺寸更緊湊

 

 

 

 

 

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